Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K0/白光干涉仪/表面形貌/粗糙度/三维轮廓等测量系统 布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术的****者,服务于科研和生产领域。新一代白光干涉仪ContourGT系列结合了先进的64位多核操作和分析处理软件,**技术白光干涉仪(WLI)硬件和**的操作简易性,是历年来来较先进的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有**大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界较高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中,较广泛使用和较直观的3D表面计量平台。 应用: 对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等,提供*非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精准数据 特征: ◆业界较高的垂直分辨率,较强大的测量性能; ?0.5~200倍的放大倍率; ?任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程; ?高分辨率摄像头; ◆ 测量硬件的*特设计,增强生产环境中的可靠性和重复性; ?较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力 ?**的自动校准能力; ◆ 多核处理器下运行的Vision64? 软件,大大提高三维表面测量和分析速度 ?数据处理速度提高几十倍; ?分析速度提高十倍; ?无以伦比的大量数据无缝拼接能力; ◆ 高度直观的用户界面,拥有业界较强的实用性,操作简便和分析功能强大 ?优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程; ?*特的可视化操作工具; ?可自行设置数据输出的界面;